高光譜成像掃描方法

1.點(diǎn)掃描：每次獲取物體上一點(diǎn)的光譜信息，通過(guò)線陣探測(cè)器進(jìn)行x-y方向的逐點(diǎn)掃描，從而獲得成像光譜。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是可以使用較少的設(shè)備資源來(lái)獲取光譜信息，缺點(diǎn)是獲取成像光譜的速度較慢。

2.線掃描：每次獲取物體上一條線上每點(diǎn)的光譜信息，通過(guò)在y方向逐線掃描來(lái)獲得成像光譜。這種方法適用于被測(cè)物與成像光譜探測(cè)系統(tǒng)的距離較遠(yuǎn)的情況，如遙感技術(shù)、產(chǎn)線檢測(cè)和材料分析等領(lǐng)域。

3.推掃式掃描：按照設(shè)備在掃描方向（垂直于運(yùn)動(dòng)方向）上的排列來(lái)掃描物體。這種方法可以獲得物體二維信息，并適用于需要大范圍、大范圍、連續(xù)光譜信息的場(chǎng)景，如大氣、海洋和地質(zhì)遙感等領(lǐng)域。

高光譜成像系統(tǒng)常用的波長(zhǎng)掃描方法包括棱鏡色散、光柵光譜儀、濾光片和可調(diào)諧激光器等。關(guān)鍵是選擇適合的波長(zhǎng)掃描方法以獲得高光譜分辨率的光譜圖像。